网站首页
购物车
用户中心
全部产品分类
服务热线
4001027270
西安千月电子科技有限公司通过整合省内外高校、研究所及相关企业测试资源，建设了测试服务平台，具备材料组分、结构、表面形貌、电学特性及可靠性测试能力。公司具有多名材料及半导体背景的资深技术人员，可为您提供一对一的测试及分析服务，为您科研提供有力支持。同时更欢迎科研人才，有识之士加入千月团队！
测试服务:
|
高分辨透射电子显微镜（TEM） |
JEM-3010 |
|
扫描电镜 SEM |
zeiss SIGMA 500 |
|
JEM-6700F |
|
|
FEI Quanta-450-FEG+X-MAX50 |
|
|
S3400N |
|
|
原子力显微镜(AFM) |
Veece nanoscope Ⅲ A型 |
|
超声波扫描（SAM） |
Sonoscan D24 |
|
X射线衍射仪 XRD |
XRD-7000 |
|
X'Pert Pro |
|
|
日本理学Dmax-Rapid II |
|
|
X射线光电子能谱仪(XPS） |
AXIS ULTRA |
|
X射线检测（X-Ray） |
Phoenix MICROME|X 180T |
|
激光拉曼光谱仪 |
Renishaw inVia Reflex |
|
傅立叶变换红外光谱仪 |
JOEL FTIR8400 |
|
稳态/瞬态荧光光谱仪 |
FLS980 |
|
PL荧光光谱量测系统 |
S301-058/059 |
|
PL映射系统PL MAPPING SYSTEM |
Platom RPM blue |
|
静电衰减测试仪 |
JCI155v6 |
|
介电阻抗谱测试 |
Novocontrol GmbH Concept 40 |
|
步入式现场环境模拟系统(恒温恒湿环境) |
X-73 |
|
高低温冲击试验箱 |
ETH80-40A |
|
电阻率测试仪 |
NIPPON |
|
膜厚测试仪 |
椭偏仪 |
|
C-V测试 |
420S |
|
B1500 |
|
|
探针台 |
EB12/PSM1000 |
|
EPS 150TRIAX |
|
|
激光共聚焦 |
OLS4100 |
|
综合物性测量 |
VersaLab |
|
ECV |
EP-RE-0051 |
|
颗粒仪(自动光学检查系统) |
nSpec |
|
可见分光光度计 |
CARY 5000 |
|
紫外可见分光光度计 |
Lambda950 |
|
台阶仪 |
布鲁克 Dektak XT |
|
A-Step膜厚段差测量仪 |
Dektak150 |
|
EL量测试系统 |
ELV1-MP3 |
|
金相显微镜 |
BX51M |
|
HALL载流子浓度测试仪 |
HL5500PC |
商家资料
提示：注册 查看!
