什么是失效分析，为什么需要失效分析
发表于：2018-06-26 作者：ceshi 关注度：225
失效分析是一门发展中的新兴学科，近年开始从军工向普通企业普及。2018年失效分析技术分享活动，仪准科技自2012年在北京建立以来，一直受到半导体行业内同行们的支持与鼓励，这6年来，有赞美，有夸奖，有磕绊，也有不足；感谢大家一直以来的包容与支持，同行们之间的反馈与意见是我们进步的较大推动力。失效分析与预防 失效分析的意义。
我们也一直在半导体行业中努力吸收新鲜知识，紧跟行业潮流，完善公司设备及技术要求，尽我们的较大努力，去达到实验标准。
端午佳节到来之际，仪准科技特此推出2018年年中的优惠活动，以此来回馈新老顾客对我们的支持。
它一般根据失效模式和现象，通过分析和验证，模拟重现失效的现象，找出失效的原因，挖掘出失效的机理的活动。在提高产品质量，技术开发、改进，产品修复及仲裁失效事故等方面具有很强的实际意义。其方法分为有损分析，无损分析，物理分析，化学分析等。
集成电路失效分析流程中，I/V CURVE的量测往往是非破坏分析的第二步(外观检查排在第一步)，可见curve量测的重要性。随着器件的pin脚数越来越多，传统的curve tracer(多为手动)没有办法满足时效的需求。Advanced推出的smart-1 auto curve tracer很好的满足了客户的需求，尤其是在BGA等通讯产品方面，具备安捷伦B1500和keithely4200无可比拟的便利性。国内知名客户有：上海宜硕、深圳宜智发、华为、珠海炬力、苏州瑞萨、苏州三星、东莞三星、SMIC、天水华天、无锡安盛、深圳沛顿、华测检测等等
失效分析与预防 失效分析的意义
IV自动曲线量测仪主要参数：
1. 高分辨率之I/V量测范围,Voltage Measure Range可达 200mV ~ 200V（需搭配keithly 2400）， Current Measure Range可达1uA ~ 1A，且测试Channel可从 64 pin逐步扩充至Max.4096 pin，以满足客户多元化之产品测试需求。
2. 机台主要测试功能，包括:Open/Short Test、I/V Curve Analysis、Idd Measuring、Powered Leakage (漏电) Test
激光开封机参数应用范围
ADVANCED仪准科技自主研发生产
型号PST-2000
性能参数
激光平均输出功率：10W
激光波长：1060nm
激光重复频率：20KHz-100KHz
开封范围：100mm x 100mm
开封深度：0.4mm
重复精度：±0.003mm
应用范围
主要应用在铜绑定线，铝绑定线及COB等特殊类封装的开帽分析
实验室实验项目:
半导体失效分析及可靠度测试领域
* Probe station（手动分析探針檯）
* Auto curve tracer(I/V曲线量测仪）
* IC开封（激光或者酸）
* EMMI SYSTEM（光发射显微镜分析）
* EDX检测分析RoHS中有害元素
* Burn-In、THB、HAST TCT、PCT etc.(可靠度試驗設備及相关老化板)
* RIE器件表面图形刻蚀
* FIB金属线的切割和连接
微型切片和TEM样片制成
* 静电测试元器件防静电等级
* POLO去层（铜制程，金属层，绝缘层，保护层）
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