从操作员的目视检查到检测设备的自动化
1） 超越目视检查水平的检测性能
2） 缺陷位置的可视化以及缺陷图像可存储化
3） 可对应OHT 和 MES
GWS-晶圆外延缺陷检测系统
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| 品牌 | 未填写 |
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GWS-晶圆外延缺陷检测系统
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公司:杭州光研科技有限公司
状态:离线 发送信件 在线交谈
姓名:冯薪雅(女士)
电话:057182858285
手机:18234772013
传真:杭州光研科技有限公司
地区:中国-浙江省
地址:萧山区经济技术开发区建设二路858号集成电路设计产业园B幢103室
邮件:xy.feng@rayresearch.com.cn
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