VDMS-2000_其他测试设备类_半导体测试设备_设备馆

VDMS-2000

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可以在高低温、宽频、真空条件下测量固体、薄膜样品的介电性能；

■可以分析样品的频率谱、温度谱、偏压谱、阻抗谱、介电谱、时间谱等测量功能；

■可以测量样品的介电常数、介电损耗，电容C，损耗D，电感L，品质因数Q，阻抗Z等物理量；

■可以实现介电常数和介电损耗随多个温度、多个频率变化的曲线，时间和电压变化的曲线；

■集多种测量功能于一体高温测量平台，配合高阻表可以测量高温电阻和热激励电流（选件）；

■符合ASTMD150和 D2149-97国际标准，同时也符合GB/T1409-2006介电常数和介电损耗的推荐方法。

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