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电学性能测试
电阻测量仪
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品牌 SURAGUS
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Highlights                                                    
Contact-free imaging                                                  
High resolution imaging (25 to 1,000,000 points)      
Defect imaging                                                           
Mapping of encapsulated layers                                                                 
Parameters                                                                                  
 Sheet resistance (Ohm/sq)
metal layer thickness (nm, µm)
metal substrate thickness (µm)
Anisotropy
Defects 
Integrity assessment
Applications                                                
 Architectural glass (LowE)                                          
Touch screens and flat monitors                                 
OLED and LED applications                                       
Smart-glass applications                                            
Transparent antistatic foils                                          
Photovoltaics                                                              
Semiconductors                                                          
De-icing and heating applications
Batteries and fuel cells
Packaging materials
Materials
metal films and meshes
Conductive oxides
Nanowire films
Graphene, CNT, Graphite 
Printed films
Conductive polymers (PEDOT:PSS)
Other conductive films and materials

联系方式
公司:SURAGUS中国
状态:离线 发送信件 在线交谈
姓名:刘先生(先生)
电话:010-0100
地区:中国-北京市
地址:中国