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太赫兹近场光学显微镜 THz-NeaSNOM
---30nm光学信号空间分辨率
太赫兹波段的纳米分辨散射式近场光学显微-谱仪系统：
neaspec公司推出的第三代散射式近场光学显微镜neaSNOM，采用专利的高阶解调背景压缩技术，有效 提取散
射近场信号，在获得10nm空间分辨率的同时保持极高的信噪比，是目前世界上唯一成熟的s-SNOM产 品。同时其
赝外差干涉式探测技术，能够获得对近场信号强度和相位的同步成像。
由于专利的全反射式光学聚焦和独一无二的双光路设计，neaSNOM是目前世界上唯一一款可以应用于太 赫兹波段的近场光学显微成像和谱仪系统。全新推出的THz-neaSNOM必将成为广大太赫兹科研工作者手中的 神兵利器。
对有机和无机材料同样适用
 封闭式外罩设计，减少气流干扰。
 预先校准的近场光路，近一步提高稳定性
 快速成像，并以10nm空间分辨率鉴别纳米材料
 同步探测近场光学信号强度、相位并成像
 可对单层石墨烯，蛋白质有效测量的高敏感度
简单明了的光路说明和光源选择指示，培训、操作简便
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产品简介：
太赫兹（THz）光源波长较大，一般在300微米左右。由于衍射极限的存在，THz远场测量系统的光学空间分辨率一般被限制在150微米左右。该THz光远场测量结果的准确度经常无法满足对材料科学研究，尤其是需要纳米分辨率的微细尺度材料分布研究（例如半导体芯片中各个组成：源极，漏极，栅极）的实验。THz-NeaSNOM近场光学显微镜的出现为此难题提供了一个很好的解决方案。
德国Neaspec公司与Fraunhofer IPM在Neaspec公司NeaSNOM近场光学显微镜的基础上，已经成功研发了一套易用使用且THz系统的空间分辨率达到30nm的实验设备。
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THz-NeaSNOM主要技术参数与特点：
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+优于30nm的空间分辨率
+常用THz光范围：0.1-3THz
+专利设计的宽波段抛面镜
+THz研究可使用商业化的AFM探针
+THz-TDS使用飞秒激光光源
+简单易用，稳定性高
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