与工研院量测中心共同合作，开发客制化轮廓仪及白光干涉仪，提供应力、形变、阶高及三维形貌监控解決方案。

近年來，深受半导体、光电、光通讯(III-V) 、面板产业客戶愛戴，成功使用本设备量测监控，提升产品良率与价值。