与工研院量測中心共同合作，开发客制化膜厚仪设备，提供透明材料膜厚度监控解決方案。

近年來，深受半导体、关电、光通讯(III-V)产业客戶爱戴，成功使用本设备在 生产管理上，针对新光阻材料厚度及晶圆厚度进行量测监控，提升产品良率及价值。