表面缺陷检测
激光开封机decap芯片失效分析IC开帽
人气:861  销量:0  评价:0
单价 0.00
库存 666件
品牌 ADVANCED
  • 商品详情
  • 评价详情(0)
  • 交易记录(0)
 主要用途
封装产品进行开封,使chip芯片裸露出来,方便后续分析(观察芯片表面、做EMMI、做去层、探针做电信号测量等)。
 
u 
性能参数
a)激光平均输出功率:10W
b)激光波长:1060nm
c)激光重复频率:20KHz-100KHz
d)开封范围:100mm x 100mm
e)开封深度:0.4mm
f)重复精度:±0.003mm
 
u
 
应用范围
主要应用在铜绑定线,铝绑定线及COB等特殊类封装的开帽分析。
联系方式
公司:仪准科技有限公司
状态:离线 发送信件 在线交谈
姓名:sunny(女士)
职位:失效分析设备市场经理
电话:01082736620
手机:13488683602
传真:01082156585
地区:中国-上海市
地址:上海市闵行区宜山路1618号E栋502室
邮编:200233
邮件:market_bjlab@adv-hk.com
QQ:360843328