BX53M正置金相显微镜 科冠电子
BX3M保留了常规显微镜检查的传统衬度对比法,比如明场、暗场、偏光和微分干涉。随着 新材料的发展,现在可以使用先进的显微镜检查技术来进行更精确和更可靠的检查,从而解 决了以往很多使用传统衬度对比法检查时遇到的缺陷检
测方面的困难。新的照明技术和奥林 巴斯Stream图像分析软件内的图像获取选项为用户提供了评估样品、文档记录的更多选择。 此外,BX3M还可用于比传统型号更大、更重、更特殊的样品

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