CTT3320测试系统是以量产功率半导体分立器件为目标的高性能集成电路测试机，可适应于功率器件的芯片测试和成品测试。主要测试品种包括MOSFET、二极管（包括肖特基和稳压管）、三极管等功率器件。

系统的主要特点如下：

l  PC通过PCI卡与测试机数据交换；

l  采用双层机架，最多可以配26块模块；

l  DUT盒通过2米长CABLE与主机相连；

l  常规配置1个测试头，最多并测8个管芯；

l  配有TTL和GPIB接口，可连接所有的探针台和分选机；

l  每个源独立AD/DA提升了系统的测试速度；

l  独立SGND结构提高了并行测试时的测试精度；

l  Windows 7操作系统，C/C++环境编程，VS2010编程平台；

l  使用CHK模块进行自检校准校验；

l  支持ACCESS 、EXCEL 、CSV三种数据保存格式；

l  通过系统设置可以满足不同客户的特殊要求；

l  具有防呆功能，对不具备测试条件的信息能自动报警并停止测试；

l  支持CP测试，具有MAP显示及多种MAP数据保存功能；

l  具有CBIT128路用户继电器驱动单元、NHVI1000高压电压电流源、LVIS大功率电压电流源三个主要功能模块；