台阶仪/3D表面轮廓仪/白光干涉仪 美国芦华
NanoMap Series 3D Surface Profilometer
美国AEP(AEP Technology, Inc.)
NanoMap-D 双模式三维表面轮廓仪(台阶仪) | ||
世上第一台,也是唯一同时具备探针式扫描和白光干涉扫描功能的轮廓仪。既方便分析各种材料、器件、工具等的表面形貌,又节省了宝贵的空间、费用。有些表面不适合探针测量,因为容易损伤样品;有些表面不适合干涉仪,因为相邻材料光学性质差异太大。这台设备以强有力的竞争为您提供两种选择。 | ||
3D接触式探针扫描(contact profiler) | 台阶重复率 | 5A |
fine模式Z高度范围 | 5μm | |
coarse模式Z高度范围 | 500μm(可选1.5mm) | |
Tip Scan模式(XY) | 最大50μm | |
Stage Scan模式(XY) | 最大150mm(可选200mm等) | |
探针压力 | 0.03-100mg | |
样品台 | 150*150mm(可选200*200mm等) | |
3D非接触光学扫描(optical profiler) | 台阶重复率 | 1A |
CCD分辨率 | 1024*1024/1536*1536/1920*1920 | |
物镜 | 2.5x/5x/10x/20x/50x/100x | |
样品反光率 | 0.4-100% | |
最大样品厚度 | 50mm( 可选100mm) | |
样品台旋转 | 360度 | |
样品台倾斜 | 4度 | |
应力分析 |