试验线路及试验方法符合MIL-STD-750、GJB128及JEDEC相关标准要求；
适用于各种封装形式的中、小功率二极管、三极管、场效应管、可控硅、集成稳压器、光电耦合器、电阻等等元器件的稳态寿命试验（CFOL）和间歇寿命试验（IFOL）；
一板一区，可满足16种不同试验参数的器件同时老化；完善、标准的老化器件库及各种老化板，解决了用户的后顾之忧；标配4/8台试验电源，电源规格可选；具有过压、欠压、过流、短路和过热等保护功能；可工作在恒压模式或恒流模式；计算机实时检测并记录电源的输出电压、电流，便于试验监控；试验电流上限、试验电压上限、温度上限的设定、老化时间的设定；实时监测并显示每通道的老化时间、老化进度、失效工位数等；实时显示并记录保存老化参数；实时判断是否超限，超限报警并记录超限工位及超限时间；老化参数方便调用、可生成试验报表、可绘制漏电流变化曲线；计算机实时检测并记录电源的输出电压、电流，便于试验监控；工业级电脑主机、液晶显示器、专用键盘及鼠标，WINDOWS操作界面，友好的人机对话窗口， 强大的图形编辑能力以及强大的器件库供用户选择，软件操作简单易学，更有系统查询诊断功能， 试验状况一目了然，方便用户随时查验；
多达几百种按军标要求设计的老化试验板供用户选择，各种基板和老化座均耐高温、抗氧化、耐疲劳；
供电电源：单相AC220V±10%，47Hz～63Hz，6KW；外形尺寸：W1360mmхH1820mmхD1320mm；重量：约500kg 。
分立器件综合老化系统
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| 库存 | 1件 |
| 品牌 | 杭州高坤电子 |
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