• 美国国家航空和宇宙航行局（NASA）指定采用产品

• IEC61340-2-1标准规范的模板设备

• 可以测试固体，粉体，液体材料的静电衰减时间

• 同时测试静电衰减时间和电容负载

• 可直接放置在成型材料上测试

• 量程：10毫秒-99小时

• 分辨率：10毫秒

• 电晕放电电压：0-9.9KV（可以选择正负极性）

• 衰减比例：可设置1%-99%

• 同时测量环境温湿度

• 特别设计气闸效应，消除残留空气离子干扰

• 高精度静电压测试探头

• 配套JCI176样品台可测量转移到测试料样上的电量，并计算出电容负载

• 配套JCI173样品杯可以测量粉体和液体的静电衰减期

• 配套JCI-Graph软件远端控制仪器，显示数据和衰减曲线，形成报告，分析/打印/储存数据。

静电衰减分析仪

JCI176试样台（放置试样，并测试电容负载）

JCI173试样杯（放置粉体或液体材料）

测试仪和试样台连接线缆

接地线

长USB数据线（用于连接电脑）

短USB数据线（用于外接U盘）

配套软件