半自动探针台(200 mm Semi-Auto Probe Station)
八英电动移动平台
X-Y-Z-R移动行程分别为200mm/200mm/30mm/15degree
X-Y-Z移动精度1um；R：0.01degree
机台由PC控制，软件可以建立wafer map
系统可以根据工程人员建立的wafer map自动点针
系统可以搭配高倍显微镜和体式显微镜两种光学系统
光学部分搭配100万象素的数字CCD
系统具有自动校验功能
半自动探针台(200 mm Semi-Auto Probe Station)
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| 单价 | ￥0.00 |
| 库存 | 50件 |
| 品牌 | ADVANCED |
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半自动探针台(200 mm Semi-Auto Probe Station)
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