微光显微镜
微漏电测试仪EMMI
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品牌 ADVANCED
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 LED晶片本身漏电直接影响了芯片热量的产生,如果不能有效解决芯片本身的漏电问题,无论散热方案设计的多么好,也很难摆脱散热不良的困扰.advanced推出的EMMI产品利用红外camera采集技术,可以准确的侦测到芯片的漏电位置,进而研发及生产人员可以有效解决芯片本身过热的问题,最终提高了产品质量。
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