•  无需复杂样品制备的快速测量，HM2000只需要30秒，其压头即可移动到测量面，并完成零位检测

•  测量过程中零位实时检测

•   可编程XY测量平台，可用于自动化测量

•  用户友好的Z轴马达驱动控制

•  用于精确定位的三种放大倍率的显微镜

•  大理石框架结构保证几何稳定性，减少热漂移和震动影响

•  测量暗表面，样品无需进行预处理

•  由于HT2000测量头出色的热稳定性，精确测量材料蠕变的时间最多可达数小时