XD7500VR 技术参数：

规格:XD7500VR 
尺寸(长x宽x高):1450 x 1700 x 1970mm 
重量:1900 KG 
最小聚集光点:0.95micron 
Ｘ光发射管:开放管 
X 射线管电压范围:30-160 KV 
最大检测面积:458MM x 407MM 
最大板尺寸: 508MM x 444MM 
最大样本重量:5 KG 
电源:单相 200-230V/16A 
斜角视图:0-70°(360°全方位检测) 
系统（几何）放大倍率:1200x 
辐射安全标准:1uSv/Hr(符合欧美标准）

DAGE X-ray 产品主要特征： 
最小分辨率：950纳米(0.95 微米)； 
影像接收器左右偏转角度各70度（共140度），旋转360度； 
图像采集:1.3M万数字CCD； 
最大检测区域面积: 18”x 16”(458 x 407 mm)； 
最大样品尺寸: 20”x 17.5”(508 x 444mm)； 
系统最大放大倍数: 至5650X； 
显示器: 20.1"(DVI interface)数字彩色平板LCD,(1600 x 1200PIXELS)； 
安全性: 在机器表面任何地方X光泄露率 < 1 m Sv/hr 等等

DAGE X-ray 检查仪设计满足PCB和半导体工业的增长需求，用户可以轻松获取高质量、高放大倍数和高分辨率下的被测物任何方位的图像。由于采用开管（Open Tube）技术，在放大倍数方面远远超过了采用闭管（Closed Tube）技术的X光检测仪达到亚微米级，能满足客户更高精度的需求。