ITC 57300
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| 单价 | ￥0.00 |
| 库存 | 111111件 |
| 品牌 | ITC |
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The ITC57300 Dynamic Parametric Test System mainframe accepts Test Heads that perform nondestructive transient measurements on semiconductor devices such as Insulated Gate Bipolar Transistors (IGBT), power MOSFETs, diodes, and other bipolar devices(requires additional optional bias power supplies and custom personality boards).
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地址:苏州市平江区人民路188号，万达广场A座1101
邮编:215000
邮件:sunwen@agvatechnologies.com
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