高低温探针卡  道格特科技可以解决在晶圆测试中的形变,针尖水平度差异大的问题

高、低温探针卡的测试环境苛刻，针卡局部温度变化大，DGT公司经过30多年的经验积累，解决了高、低温探针卡在晶圆测试中的形变、针尖水平度差异大的问题。

产品特点：

高、低温测试（-40--150℃）

ReW/OC材质

平整度高

多Sites同测

公司概况

深圳市道格特科技有限公司（DGT），位于科技企业林立、中国改革开放第一市——深圳市。

深圳市道格特科技有限公司（DGT）专注于半导体晶圆（IC）测试、LCD屏测试、DRAM测试等测试用探针卡等测试用探针卡（Probe Card）设计、制造、维护，晶圆探针、LED点

测针的销售。

技术实力

DGT公司通过吸收美国和日本探针卡（Probe Card）制造技术，发挥自身自动设备研发的专长，研发出更高精度、自动化、一体化的生产设备，在此基础上公司可生产最小压点

（Pad）尺寸15×30μm，压点中心（Gap）最小间距20μm，多芯同测（128Sites），放针可达12层，单针卡制造技术已达5000Pins，单针满足大电流达2A以上，低漏电0.1pA

以内，测试温度范围-40℃--+150℃，高频超过2GHz以上，超大电流、大电压（200A、6500V）等不同测试要求的探针卡，广泛应用于国内、外各种高端测试平台。

经营策略

以科技为向导、质量为基础，高效快速满足客户需要。

公司定位

为客户提供专业的测试界面解决方案。

公司理念

专业、精准、高效