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    GWS-晶圆外延缺陷检测系统

    应用于半导体行业:

    半导体测试设备

    库       存:

    1

    产       地:

    全国

    数       量:

    减少 增加

    价       格:

    面议
    交易保障 担保交易 网银支付

    品牌:

    型号:

    所属系列:半导体测试设备

     GWS-晶圆外延缺陷检测系统

    从操作员的目视检查到检测设备的自动化

     

    1) 超越目视检查水平的检测性能

    2) 缺陷位置的可视化以及缺陷图像可存储化

    3) 可对应OHT 和 MES 

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