网站首页

|EN

当前位置: 首页 » 设备馆 » 半导体测试设备 » 表面形貌测试 » 表面轮廓仪 »芯茂科技-晶圆边缘/V-notch形状检测 轮廓仪EGPRO-512
    包邮 关注:644

    芯茂科技-晶圆边缘/V-notch形状检测 轮廓仪EGPRO-512

    库       存:

    1

    产       地:

    全国

    数       量:

    减少 增加

    价       格:

    面议
    交易保障 担保交易 网银支付

    品牌:

    型号:

    所属系列:半导体测试设备-表面形貌测试-表面轮廓仪

     设备简介

    以非接触的自动测量方式,对半导体衬底晶片倒角后的edge 和 notch 进行形貌与尺寸进行测定。

     

    特征

    ·设备可以对 2 英寸 wafer 到 12 英寸 wafer 进行自动测量。

    ·测量是在晶圆操作台上以非接触的方式进行。

    ·可测定部分:边缘,槽口(notch)和 OF 边的长度(OPTION)

    ·搭载电脑控制系统,测量结果可保存在各种外部记忆媒体。

    ·具备 LAN 连接功能,测量数据可以随时在 network 范围内查阅

     

    咨询

    购买之前,如有问题,请向我们咨询

    提问:
     

    应用于半导体行业的相关同类产品:

    服务热线

    4001027270

    功能和特性

    价格和优惠

    微信公众号