可以在高低温、宽频、真空条件下测量固体、薄膜样品的介电性能;
■可以分析样品的频率谱、温度谱、偏压谱、阻抗谱、介电谱、时间谱等测量功能;
■可以测量样品的介电常数、介电损耗,电容C,损耗D,电感L,品质因数Q,阻抗Z等物理量;
■可以实现介电常数和介电损耗随多个温度、多个频率变化的曲线,时间和电压变化的曲线;
■集多种测量功能于一体高温测量平台,配合高阻表可以测量高温电阻和热激励电流(选件);
■符合ASTMD150和 D2149-97国际标准,同时也符合GB/T1409-2006介电常数和介电损耗的推荐方法。