半导体行业稳态湿热试验箱~恒温双85试验箱_环境模拟设备_寿命测试设备_半导体测试设备_设备馆

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上海龙松检测设备有限公司恒温双85试验箱
恒温双85试验箱主要用于工业产品或材料的高温高湿试验，对半导体元器件、电工电子、航空航天、仪器仪表、机电家电、汽车零部件、船舶兵器、通讯行业、新能源行业、高等院校、科研单位等的相关产品及材料在85℃/85%RH的高温高湿条件下老化产品后，对比产品老化前后的性能变化，重点评价产品或材料的抗潮湿能力。设备适用试验类型：恒温恒湿试验、高湿试验。
特点
测试空间容积为80L,120L,225L,408L,504L,800L,1000L,非标定制等
高效的控制和监控系统，自带集成的测试数据记录功能。
带菜单引导界面的彩色控制面板。
USB接口以太网接口。
具有独立温度测量（Tmin/Tax)功能的试样保护装置。
高速空气循环速率可确保试验区内的温度和湿度分布均匀。
即使在高温环境下也能提供可靠的测试数据值。
高分辨的彩色触摸屏具有图像显示功能，便于处理环境模拟程序
能耗最小。
设计和技术参数(THT系列）
型号		LS-THT-01	LS-THT-02	LS-THT-03	LS-THT-04	LS-THT-05	LS-THT-06	LS-THT-07
箱体设计
试验箱内容积（升）		80	120	225	408	504	800	1000
内箱尺寸（mm）	宽（W)	400	450	600	600	700	1000	1000
	高（H)	500	600	750	850	900	1000	1000
	深（D)	400	450	500	800	800	800	1000
外箱尺寸（mm）	宽（W)	1020	1070	1220	1220	1320	1630	1630
	高（H)	1350	1450	1650	1750	1800	1900	1900
	深（D)	630	680	730	1030	1030	1030	1230
温度试验参数
最低温度	℃	RT+10
最高温度	℃	150
升温速率（平均）	℃/min	5
温度波动度	℃	±0.5
温度偏差	℃	±1.0
湿度试验参数
温度范围	℃	20~+86
温度波动度	℃	±0.5
湿度偏差	%RH	±3.0
湿度范围	%RH	20~+98
供电和连接
额定电压		AC 220V /380V 50Hz/60Hz
最大功率	KW	4	4.5	6	7	10	10	11
箱体净重	kg	230	240	400	480	520	600	680
冷却方式	风冷
备注：以上数据均在环境温度25℃、工作室无负载条件下测得。温度和湿度值的数据采集是在测试室空载的状况下由传感器测得。实际测量的温度值稳定在设定温度后，再进行温度波动的测量。根据特殊使用要求可配置特殊电压。升温速度执行标准依据JESD22-A101，IEC60068-2-67。以上性能指标是在进水口温度为25℃、额定电压下测得。



此样本提供的产品概述仅供参考，既不是相关的建议和推荐也不是任何合同的一部分。由于本公司的产品会不断更新，因此我们保留对技术指标变更的权利，恕不另行通知，谢谢合作。

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