功率器件高低温冲击试验箱系列-55~150℃_冷热冲击试验箱_寿命测试设备_半导体测试设备_设备馆

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上海龙松检测设备有限公司高低温冲击试验箱（提篮式)
高低温冲击试验箱又名冷热冲击试验箱，产品主要用于工业产品或材料耐受高温-低温（极低温）、低温（极低温）-高温连续瞬间转换的可靠性试验，对半导体元器件、电工电子、航空航天、仪器仪表、橡胶、汽车零部件、船舶兵器、通讯行业、金属制品、高等院校、科研单位等的相关产品及材料在高温、低温(极低温)经受连续瞬间转换（循环）的情况下，检验其各项性能指标。重点考核材料在瞬间下经温度连续骤变环境下忍受的程度，得以在最短时间内检测试样因热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。设备适用试验类型：高低温冲击试验、高温试验、低温试验、极低温试验等。
特点
测试空间容积为27L,64L,125L。
两箱垂直排列。
球轴驱动器能可靠的引导提篮。
提篮周围的护栏可取下以保护试样。
热箱的工作范围从+50到220℃（可选最高温度250℃）。
冷箱的工作范围从-70到+80℃。
试验区内的空气循环速度快，变温时间短温度分布均匀。
用于样品供电和测量的大型引线孔。
高分辨的彩色触摸屏具有图像显示功能，便于处理环境模拟程序。
能耗最小。
设计和技术参数(TCT系列）
型号		LS-TCT-C1	LS-TCT-C2	LS-TCT-C3	LS-TCT-T1	LS-TCT-T2	LS-TCT-T3	LS-TCT-G1	LS-TCT-G2	LS-TCT-G3
箱体设计
提篮容积（升）		27	64	125	27	64	125	27	64	125
内箱尺寸（mm）	宽（W)	300	400	500	300	400	500	300	400	500
	高（H)	300	400	500	300	400	500	300	400	500
	深（D)	300	400	500	300	400	500	300	400	500
外箱尺寸（mm）	宽（W)	1180	1280	1380	1180	1280	1380	1180	1280	1380
	高（H)	1850	1950	2050	1850	1950	2050	1850	1950	2050
	深（D)	1800	1900	2000	1800	1900	2000	1800	1900	2000
温度试验参数
温度范围热箱	℃	+80~220			+80~220			+80~220
温度范围冷箱	℃	-10~-60			-20~-70			-30~-80
测试温度范围	℃	-40~+150			-55~+150			-65~+150
温度波动度	℃	±0.5~1.0
温度均匀度	℃	±0.5~2.0
储温区升温速率（平均）	℃/min	3~5
储温区降温速率（平均）	℃/min	1
吊篮转换时间	sec	≤10
恢复时间	min	≤5
校准值热箱	℃	125			125			150
校准值冷箱	℃	-40			-55			-65
冷却方式		水冷或风冷
备注：以上数据均在环境温度25℃、工作室无负载条件下测得。温度和湿度值的数据采集是在测试室空载的状况下由传感器测得; 实际测量的温度值稳定在设定温度后，再进行温度波动的测量。根据特殊使用要求可配置特殊电压; 执行标准依据IEC60068-3-5 在冷箱/热箱内预设更高或更低的温度，温度变化速率可以增加; 以上性能指标是在环境温度+25℃，额定电压380V，无负载，无选件，无热负载的情况下测得;


此样本提供的产品概述仅供参考，既不是相关的建议和推荐也不是任何合同的一部分。由于本公司的产品会不断更新，因此我们保留对技术修改的权利，恕不另行通知，谢谢合作。欢迎致电我司销售热线：刘梓牧19851229522

功率器件高低温冲击试验箱系列-55~150℃

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