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    ​ 日本Mitutoyo便携式表面粗糙度仪​

    应用于半导体行业:

    半导体加工设备

    库       存:

    10

    产       地:

    全国

    数       量:

    减少 增加

    价       格:

    面议
    交易保障 担保交易 网银支付

    品牌:

    型号:

    所属系列:半导体加工设备

     产品特点:

    ·清晰的大型易进行读数字符显示
    ·便携式设计,可用于任何场所
    ·检测器/驱动部可拆卸,可在很小的空间内进行测量
    ·探针行程达350mm(-200mm~+150mm)
    ·粗糙度参数与ISO,DIN,ANSI和JIS兼容
    ·提供包括基础参数Ra,Rq,Rz,Ry在内的19个分析参数。
    ·用户自定义功能可屏蔽不需要的参数。
    ·对所需参数进行GO/NG判断。
    ·通过简单的增益调整进行自动校准。
    ·自动休眠功能可有效节约能源。
    ·断电后仍可在存槠器中存10组不同的测量条件。
    ·可为SPC操作输出数据。
    ·外部设备可通过RS-232C端口与电脑或其它装置进行数据传输
    ·双电源系统(AC适配器/内置充电电池)
    ·带有专用便携式仪器箱,可安全传输
    ·可提供高精度粗糙度标准片
    ·可通过打印机选件打印输出测量数据

    技术参数:

    型号

    SJ-210

    SJ-210

    SJ-210

    SJ-210

    检测器测力

    0.75mN

    4mN

    0.75mN

    4mN

    评价长度

    12.5um

    12.5um

    12.5mm

    12.5mm

    测量范围

    350um(-200mm-+150mm)

    驱动部 / 检测器

    检测器: 178-395/178-390
    探针:钻石型 ( 针尖半径: 2um/5um)
    检测方式:微分感应

    评定轮廓

    P,R,DIN4776曲线

    P,R,Motif

    评价参数

    Ra,Ry,Rz,Rt,Rp,Rq,Rv,Sm,

    S,Pc,R3z,mr,dc,Rpk,Rvk,

    Rk,Mr1,Ra,Ry,Rz,Rt,Rp,Rq,

    Sm,S,Pc,Mr2,Lo,R,AR,Rx,

    A1,A2,Vo(支持用户自定义 )

    Ra,Ry,Rz,Rt,Rp,Rq,Rv,Sm,

    S,PcR3z,mr,R,AR,Rx,

    (支持用户自定义 )

    表面粗糙度标准

    JIS,DIN,ISO,ANSI

    数据滤波

    2CR-75%,2CR-75%PC,Gaussian-50%

    截至波长

    lc:0.25,0.8,2.5mm
    ls:2.5,8um

    取样长度 (L)**s

    0.25,0.8,2.5,mm

    取样段数

    ×1, ×3, ×5, ×L

    显示

    液晶显示

    数据输出

    通过 RS-232C 接口 /SPC 数据输出

    电源

    通过 AC 适配器 / 电池 ( 可更换 )

    尺寸 (WxDxh)

    156.5×62×52mm

    重量

    290g

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