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    Kosaka 8寸台阶仪

    库       存:

    10

    产       地:

    日本

    数       量:

    减少 增加

    价       格:

    面议
    交易保障 担保交易 网银支付

    品牌:

    型号:

    所属系列:半导体测试设备-表面形貌测试-台阶仪


    Kosaka 8寸台阶仪

    ET4000A

    极佳重复性与线性度


    •  采用直动式探针;

    •  可避免圆弧补正误差;

    •  可避免Bearing间隙误差;

    •  段差测定再现性;

    •  1σ 0.2nm以内,但实际高速测试中可达0.1nm


    高分辨率


    •  纵轴最高分辨率0.1nm;

    •  横轴最高分辨率0.1um;

    •  X测定速度可调:5μm~2mm/s;


    低测定力


    • 测定力在 10 ~ 500uN、 1~50mgf 可任意设定;

    • 可测定软质材料面,如︰COLOR FILTER、SPACER、PI…等。

    超高垂直直线度

    • 可追溯性:通过ISO9000国际认证,可追溯NIST(USA)及NRLM(JAPAN) ,产品出厂皆有出厂测试认证报告;

    • 超高垂直直线度精度保证:局部0.005um/5mm、全量程0.2um/100mm;

    • 可测定样品的平面度、波纹度、翘曲度、内应力。

    真直度保证-1


    线性尺与时间取样


    形状及粗度解析果

    粗度规范对应:可对应各种国际新旧标准规范,测量参数多达60种;






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