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型号：FM/060-LP激光平面干涉仪
原理：斐索干涉仪是一种原理为等厚干涉，用以检测光学元件的面形、光学镜头的波面像差以及光学材料均匀性等的精密仪器。其测量精度一般为1/10～1/100,为检测用光源的平均波长。
功能：平面光学元件表面面型测量
测量方式：斐索干涉原理
通光口径：60mm
测试波长：635nm（半导体激光器）
对准方式：简单两点对准
对准视场：±0.5度
平面标准镜精度：PV：λ/20
产品特点：
1. 结构紧凑，小型化；
2. 防尘效果好；
3. 具有不损伤被测物品、测试精度高、测量时间短；
4. 激光干涉仪的光源——激光，具有高强度、高度方向性、空间同调性、窄带宽和高度单色性等优点；
5. 激光干涉仪可配合各种折射镜、反射镜等来使用；
6. 激光干涉仪测量范围大、分辨率高等。
应用范围：科学研究、精密器件加工及光学零件测试等领域的广泛应用。
