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当前位置: 首页 » 设备馆 » 半导体测试设备 » 寿命测试设备 »立德爱博LD615-01 CMOS图像传感器自动测试机
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    立德爱博LD615-01 CMOS图像传感器自动测试机

    应用于半导体行业：

    半导体测试设备-寿命测试设备

    库       存：

    10000

    产       地：

    中国-广西

    数       量：

    减少 增加

    价       格：

    面议
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    品牌：

    型号：

    所属系列：半导体测试设备-寿命测试设备

     

    立德爱博LD615-01 CMOS图像传感器自动测试机

    LD615-01 自动测试机机械特性:

    ★  LCC、PBGA、CSP等封装CMOS图像传感器测试的理想选择。

    ★  吸头运动方向均采用由计算机控制的伺服电机系统，精密丝杆传动，动作灵活、定位准确、速度快。

    ★  采用图像识别和自动定位技术，自动完成所有取放片动作。

    ★  采用5工位独立同时测试，有效提高测试效率；

    ★  采用最短连接测试方式，有效保证测试准确性；

    ★  可支持多种Tray，以及JEDEC Tray，并可分成最多30PIN（根据芯片而定）。

    ★  优越的结构设计，采用计算机控制，全中文操作界面，更精确，方便的操作。

    ★  可适应各种封装形式的CMOS图像传感器器件测试。

    ★  可兼容LCC 、PBGA、CSP封装形式IC及指纹IC等器件电性测试。

    立德爱博LD615-01自动测试机规格参数

    1.系统功能

    测试方式

    5颗独立

    放片精度

    X 、Y  +50um

    生产速度

    ≥单颗测试时间/5+100ms

    压力范围

    30～ 150gf

    适用Tray

    2、3、4及JEDEC Tray

    适应吸嘴

    橡胶

    拾晶方式

    摆臂方式

    分PIN数

    最多30PIN（视IC定）

    2.上料 XY工作台

    芯片

    Tray种类

    2、3、4 Tray及JEDEC Tray

    芯片类型

    常用CMOS图像传感器封装

    工作台

    最大行程

    4*JEDEC Tray

    分辩率

    0.02mil(0.5μm)

    重复率

    ±0.02mil(±0.5μm)

     

     

    3.图像识别系统

    图像识别

    256级灰度

    分辩率

    640×480像素

    图像识别精度

    0.025mil@50mil规测范围

    4.测试台

    放置检测

    视觉检测

    5.Tray 装载

    LOADER装载

    手动

    6.机台体积及重量

    长*宽*高

    1450x1400x1800mm

    重量

    约800KG

    7.运行要求

    电压

    AC-220V

    频率

    50Hz

    压缩空气

    0.4~0.6Mpa

    真空负压

    ≤80Kpa

    功率消耗

    800W

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