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    高温扫描隧道电子显微镜(HT-STM)

    应用于半导体行业:

    半导体测试设备-其他测试设备类

    库       存:

    10000

    产       地:

    中国-江苏省

    数       量:

    减少 增加

    价       格:

    面议
    交易保障 担保交易 网银支付

    品牌:

    型号:

    所属系列:半导体测试设备-其他测试设备类

     

    高温扫描隧道电子显微镜由荷兰LPM公司与常州国成新材料科技有限公司(GCInno®)共同研制开发,可以实现最高1300K样品温度下对样品表面的原位扫描成像,高温成像分辨率小于1nm,室温成像达到原子分辨。  
    可广泛应用在真空镀膜、化学气相沉积及催化反应研究等领域。 

    图片1

    亮点:  
    ☆实现高温条件下的样品表面反应的原位成像,直接观测反应过程, 最高温度可达1300K  
    ☆可在不退针的情况下对样品进行从室温到1300K连续扫描。  
    ☆国际联合设计、本土化总装,方便满足定制需求、快速交货和技术的技术服务。  
    技术参数:

    本底真空 <2 x 10-10 mbar
    漏率 <10-12mbar•l•s-1
    分辨率 室温下(HOPG原子分辨)0.1nm;高温下1nm
    适用温度 300~1300 K;可扩展低温77~300K
    热漂移 XY方向:<0.15nm/min;Z方向:<0.05nm/min
    因变温引起的样品热位移 XY方向:<15nm/k;Z方向:在扫描管伸缩内
    扫描范围 2μm×2μm

    可选配件:  
    原位MBE-STM联合系统;原位CVD-STM联合系统;原位MBE蒸发源;  
    BN蒸发源;CVD气路;氩离子枪;空气腿;超高真空、高真空系统等。  
    特殊定制:  
    可根据客户需求,定制各种腔体、传样系统等。  
    效果展示: 

    图片2

    在1300K样品温度下,观测到的氮化硼图像图像尺寸为70nmx70nm 

    图中周期性结构的周期为3.2nm,起伏小于0.1nm  

    3图片3

    不同温度下石墨烯在金属表面的形成过程

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