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    EB系列探针台台体 北京美亚先科技

    产品品牌

    北京美亚先

    库       存:

    100

    产       地:

    中国-上海市

    数       量:

    减少 增加

    价       格:

    面议
    交易保障 担保交易 网银支付

    品牌:北京美亚先

    型号:

    所属系列:半导体测试设备-电学性能测试-手动探针台

    EB系列探针台台体 北京美亚先科技
    总体规格特点:

       重量:60kg(含显微镜)。
       尺寸:580mm宽*460mm长*700mm高(含显微镜)。
       优化的人体工学设计,便于工程师长时间舒适操作。
     
    显微镜操控规格:
       显微镜后侧有X/Y轴调节小摇轮,可调节显微镜在x-y方向的移动,移动范围2"X2",精度1μm。
       显微镜Z轴带有调焦粗旋钮和细旋钮,粗旋钮方便快速调焦,细旋钮方便精确调焦,使显微镜在Z轴方向行程50.8mm,移动精度10μm。
     
    台面规格:
       探针台台面平整度:5μm。
       探针台台面为固定台面。
     
    卡盘(载物台,即图中的chuck)规格:
       6" 卡盘,卡盘平整度:5μm,采用真空吸附方式吸附,带真空吸附孔,中心孔径 250μm-1mm(可根据客户需求定制孔径大小),最小可以吸住尺寸为0.3mmX0.3mm,最大能够吸住尺寸为6"X6"。
       卡盘可360度旋转,旋转角度可微调,微调精度为0.1度,带角度锁定旋钮。
       卡盘座有小摇杆,提起90度后,可以使卡盘快速线性上升4mm,在做wafer点测时方便快速移动点测位置,同时做普通die或者decap后芯片点测时,方便快速更换样品。
       卡盘X,Y轴调节旋钮可以控制卡盘做X-Y方向的移动,移动范围为6"X6",移动精度为10μm,为方便点测的稳定性,带有锁住功能如果点测6"wafer的时候,可以保证6"wafer的每一点都能够点测到。
     
    性能:
    • 真空吸附卡盘:对应可选4" ,6",8",12"产品
    • 卡盘X-Y方向精确线性移动行程:6"-6"
    • 线性无回差调节
    • 卡盘上/下移动行程:4mm
    • 4", 6", 8", 12" 晶圆 (晶圆尺寸)
    • 样品尺寸: 5x5mm ~ 4" 6", 8", 12"
    • 卡盘平整度: 10um
    • 卡盘旋转角度:0~360°
    附件:
    • 显微镜倾仰装置
    • 镀金卡盘
    • 射频测试探头/电缆
    • 有源探头
    • 低电流/电容测试
    • 高压测试
    • 激光修复
    • CCD/数字相机,USB接口
    • 探针卡/封装/PCB板夹具
    • 加热装置
    • 防震桌
    • 屏蔽箱
    • 显微镜暗场/Normarski 检测

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