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    包邮 关注:203

    贴片灯冷热冲击试验箱-设备品牌

    应用于半导体行业:

    半导体测试设备-其他测试设备类

    产品品牌

    艾思荔

    库       存:

    7

    产       地:

    全国

    数       量:

    减少 增加

    价       格:

    25400.00
    交易保障 担保交易 网银支付

    品牌:艾思荔

    型号:

    所属系列:半导体测试设备-其他测试设备类

     贴片灯冷热冲击试验箱-设备品牌

    冷热冲击试验箱适用范围  135 3237 0059张S

    冷热冲击试验箱主要是针对于电工、电子产品,以及其原器件,及其它材料在高温、低温、湿热及其循环变化的环境下贮存、运输、使用时的适应性试验。  

    该试验设备主要用于对产品按照国家标准要求或用户自定要求,在低温、高温、高温高湿及其循环变化条件下,对产品的物理以及其他相关特性进行环境模拟测试,测试后,通过检测,来判断产品的性能,是否仍然能够符合预定要求,以便供产品设计、改进、鉴定及出厂检验.

     

    冷热冲击试验箱温度范围

      内容积(W×H×D)

      -40~150℃

      -55~150℃

      -65~150℃

     冷热冲击试验箱 (11)

    冷热冲击试验箱产品规格(mm)

    型号:TS -80   工作室尺寸:H×W×D  400×500×400   外形尺寸: H×W×D  1500×1350×1470

    型号:TS -100  工作室尺寸:H×W×D  450×500×450   外形尺寸: H×W×D  1550×1450×1550

    型号:TS -150  工作室尺寸:H×W×D  500×600×500   外形尺寸: H×W×D  1600×1550×1920

    型号:TS -252  工作室尺寸:H×W×D  600×700×600   外形尺寸: H×W×D  1700×1650×2170

    型号:TS -480  工作室尺寸:H×W×D  750×800×800   外形尺寸: H×W×D  1850×1750×2270

     

    冷热冲击试验箱符合标准

    GJB367.2-87 405温度冲击试验。

    SJ/T10187-91Y73系列温度变化试验箱——一箱式

    SJ/T10186-91Y73系列温度变化试验箱——二箱式

    满足标准IEC68-2-14_试验方法N_温度变化

    GB/T 2424.13-2002试验方法温度变化试验导则

    GB/T 2423.22-2002温度变化

    QC/T17-92汽车零部件耐候性试验一般规则,

    EIA 364-32冷热冲击试验箱测试程序的电连接器和插座的环境影响评估。

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