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    二槽式冷热温冲击试验机厂家销售日记(今日更新)

    应用于半导体行业:

    半导体测试设备-其他测试设备类

    产品品牌

    艾思荔

    库       存:

    7

    产       地:

    全国

    数       量:

    减少 增加

    价       格:

    28400.00
    交易保障 担保交易 网银支付

    品牌:艾思荔

    型号:

    所属系列:半导体测试设备-其他测试设备类

     二槽式冷热温冲击试验机标准型号:  135 3237 0059张S

    尺寸(也可按客户要求生产)(单位:mm):

    型号TS-250内形尺寸:W×H×D700×600×600外形尺寸:1900×2050×1650

    型号TS-408内形尺寸:W×H×D1000×650×750外形尺寸:2000×2300×2600

    型号TS-560内形尺寸:W×H×D1000×700×800外形尺寸:2000×2400×2700

    二槽式冷热温冲击试验机技术参数

    高温槽温度范围:+60~200℃.

    低温槽温度范围:A:(-55~-10℃).B:(-65~-10℃).D:(-80~-10℃).

    实验箱冲击温度:高温+60~150℃

    低温A:(-10~-40℃)B:(-10~-55℃)D:(-10~-65℃)

    升温时间:60~200℃小于35分

    降温时间:A:+20~-55℃小于75分B:+20~-65℃小于80分D:+20~-75℃小于90分.

    冲击恢复时间:高温(150℃)冲击30分钟.低温(-40℃or-55℃or-65℃)冲击30分钟.

    冲击恢复时间:5分钟以内.

    风门开启时间:3秒以内
    QQ截图20170815094417

    二槽式冷热温冲击试验机主要技术指标:

    测试区尺寸(W×H×Dcm):35×35×40

    高温范围:+60℃~+200℃

    升温速率:+60℃~+200℃≤40min

    低温范围:-10℃~-50℃(A型);-10℃~-65℃(B型);-10℃~-78℃(C型)

    降温速率:+25℃~-55℃≤60min,+25℃~-65℃≤70min,+25℃~-78℃≤85min,

    试验范围:高温:60℃~150℃,低温:-10℃~-40℃(A型);-10℃~-55℃(B型);-10℃~-65℃(C型)

    风门切换时间:≤10S

    温度转换时间:≤5min

    温度波动度:±0.5℃

    温度偏差:±2.0℃

    二槽式冷热温冲击试验机用途:

    广泛用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、化学材料、塑料等行业,国防工业、航天、兵工业、BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁及高分子材料之物理牲变化,测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害,可确认产品的质量,从精密的IC到重机械的组件,可作为其产品改进的依据或参考。

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