冷热冲击试验机/温度冲击试验机/高低温冲击试验机/冷热冲击试验_其他测试设备类_半导体测试设备_设备馆

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（二）技术方案

1. 产品名称

产品型号三箱式冷热冲击试验机

KLO-(100L ) -(40 )- 3（W）

2. 试样限制本试验设备禁止：

易燃、易爆、易挥发性物质试样的试验或储存

腐蚀性物质试样的试验或储存

生物试样的试验或储存

强电磁发射源试样的试验或储存

放射性物质试样的试验或储存

剧毒物质试样的试验或储存

试验或储存过程中可能产生易燃、爆炸、挥发、剧毒、腐蚀及放射性物质的试样的试验或储存

3. 容积、尺寸和重量

3.1. 标称内容积 (100L )

3.2. 测试区内箱尺寸 W(500 )mm×H(400 )mm×D(500)mm

3.3. 整机外型尺寸 W(1500 )mm×H(2200 )mm×D(1300 )mm

3.4. 重量 (1000 ) KG

4. 性能

4.1. 测试环境条件环境温度为+5~+28℃、相对湿度≤85%、试验箱内无试样条件下

4.2. 测试方法 GB/T 2423.1-2001、GB/T 2423.2-2001、GB/T 2423.22-2001、GJB 150.3-2001

4.3. 高低温区温度范围 1.高温区部分：60℃~200℃

2.低温区部分：-10℃~-70℃

3.测试区部分：150℃~-40℃

4.4. 温度测试范围 1.高温：60℃~160℃

2.低温：-10℃~-（40）℃

4.5. 高低温转换时间 ≤10S

4.6. 高低温恢复时间 3~5min（非线性空载下）

4.7. 控制精度温度：±0.2℃

（指控制器设定值和控制器实测值之差）

4.8. 温度波动度 ≤0.5℃（温度波动度为中心点实测最高温度和最低温度之差的一半）

4.9. 温度误差 ≤±1℃（工作室温度控制器显示值的平均温度减去中心点实测的平均温度）

4.10. 温度均匀度 ≤2.0℃（温度均匀度为每次测试中实测最高温度和最低温度之差的算术平均值）

4.11. 预热区升温速度 ≥3℃/min（非线性）

4.12. 预冷区降温速度 ≥2℃/min（非线性）

4.13. 工作噪音 A声级≤70dB(A)

(在环温25℃，回声少的隔音室内测得；采用A计权，测试8个点的平均值；各测试点水平离噪音源1米、高度离地面1米)

4.14. 满足试验方法

GB/T2423.1-2008(IEC60068-2-1:2007)低温试验方法Ab

GB/T2423.2-2008(IEC60068-2-2:2007)高温试验方法Bb

GB2423.22-87温度变化试验方法

GJB150.5-86温度冲击试验

GJB360.7-87温度冲击试验

GJB367.2-87温度冲击试验

（每立方米负载不大于35kg/m3钢的热容量，湿热试验时无有源湿、热负载）

起批	1-2台	3台以上
价格	￥68000.00	￥66800.00