网站首页

|EN

当前位置: 首页 » 设备馆 » 半导体测试设备 » 电学性能测试 » 半自动探针台 »自动/半自动探针台/晶体管测试台 美国芦华
    包邮 关注:452

    自动/半自动探针台/晶体管测试台 美国芦华

    产品品牌

    美国芦华

    库       存:

    100

    产       地:

    美国

    数       量:

    减少 增加

    价       格:

    10000.00
    交易保障 担保交易 网银支付

    品牌:美国芦华

    型号:

    所属系列:半导体测试设备-电学性能测试-半自动探针台

    1.10 自动/半自动探针台/晶体管测试台
    Automatic/Semi-automatic Probe Station/Transistor Measuring Systems

    美国西太平洋公司(Pacific Western Systems)

    主要特性参数指标∶

    • 载片台移动范围∶6.8 X 8.5英寸(XY)
    • 载片台可转动角度∶ +/- 7.5度
    • 载片台平整度∶+/- 0.0005英寸
    • 移动精度: +/- 0.00025英寸
    • 最小步距∶ 0.0001英寸
    • 最大移动速度∶ 5英寸/ sec
    • 移动重复性 +/- 1.25 μm
    • 图形识别及自动对准,自动快速准确
    • 标准参数∶Icbo, Iebo, V(BR)CEO, V(BR)CBO,etc
    • 结果自动分类,表格输出及图形输出,
    • 可多色喷墨打点分类。
    • Keithley或Agilent的多功能万用表。

    咨询

    购买之前,如有问题,请向我们咨询

    提问:
     

    请问你们这个chuck尺寸能测哪些规格的晶元?

    sdmm  2017-08-11

    应用于半导体行业的相关同类产品:

    服务热线

    4001027270

    功能和特性

    价格和优惠

    微信公众号