网站首页

|EN

当前位置: 首页 » 设备馆 » 半导体测试设备 » 寿命测试设备 » 老化箱 »高低温试验箱,半导体高低温老化试验箱
    包邮 关注:329

    高低温试验箱,半导体高低温老化试验箱

    产品品牌

    上海隽思

    库       存:

    5

    产       地:

    全国

    数       量:

    减少 增加

    价       格:

    面议
    交易保障 担保交易 网银支付

    品牌:上海隽思

    型号:

    所属系列:半导体测试设备-寿命测试设备-老化箱


     高低温试验箱,半导体高低温老化试验箱简介

       高低温试验箱,低温老化试验机用于试验各种材料耐热、耐寒、耐干性能。适合电子、电器、通讯、仪表、车辆、塑胶制品、金属、食品、化学、建材、医疗、航天等制品检测质量之用。

    高低温试验箱,半导体高低温老化试验箱特点
    高质感外观,机体采圆弧造型,表面经雾面条纹处理,并采用平面无反作用把手,操作容易,安全可靠。 
    长方形复层玻璃观窗口,可在试验中进行试验品观察使用,窗口具防汗电热器装置可防止水气凝结水滴,及高亮度PL荧光灯保持箱内照明。 
    箱门双层隔绝气密迫紧,可有效隔绝内部温度泄漏。 
    具可外接式供水系统,方便于补充加湿桶供水,并自动回收使用。 
    压缩机循环系统采用法国“泰康”牌,更能有效去除冷凝管与毛细管间的润滑油并全系列采用环保冷媒(R23、R404、R507)。 
    控制器采用进口LCD显示屏幕,可同时显示测定值及设定值、时间。 
    控制器具有多段程序编辑及温度、湿度可做快速(OUICK)或斜率(SLOP)控制。 
    内置式移动滑轮便于移动及摆放并具有强力定位螺丝固定位置。
    执行标准与试验方法
    GB11158         高温试验箱技术条件 
    GB10589         低温试验箱技术条件 
    GB10592-89       高低温试验箱技术条件 
    GB/T2423.1-2001    低温试验箱试验方法 
    GB/T2423.2-2001    高温试验箱试验方法 
    GB/T2423.22-2001   温度变化试验方法 
    IEC60068-2-1.1990  低温试验箱试验方法 
    IEC60068-2-2.1974  高温试验箱试验方法 
    GJB150.3         高温试验 
    GJB150.4         低温试验
    高低温试验箱,半导体高低温老化试验箱技术参数

    降温时间约:约1.0℃/分钟(每分钟下降5~10℃为特殊选用条件);
    温度范围:-120、-80、-40℃~+100℃(150℃)(温度可选);
    温度均匀度:±2.0℃;
    温度波动度:±1℃
    升温时间约:4.0℃/分钟; 
    内部尺寸:1000*1000*1000(mm)可选择

    内外部材质:全机为SUS 304#不锈钢板雾面处理,内箱为不锈钢 
    保温材质:耐高温高密度氯基甲酸乙醋泡沫绝缘体材料 
    冷却系统: 风冷式/双段压缩机 
    保护装置:无熔丝开关、压缩机过载保护开关、冷媒高低压保护开关、超湿度超温保护开关、保险丝、故障警告系统 
    配件:观视窗、50mm测试孔、内部照明灯、分层隔板、干湿球纱布 

    压缩机:法国泰康
    电源: 220VAC±10% 50/60Hz 、 380VAC±10% 50/60Hz

    咨询

    购买之前,如有问题,请向我们咨询

    提问:
     

    应用于半导体行业的相关同类产品:

    服务热线

    4001027270

    功能和特性

    价格和优惠

    微信公众号