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符合MIL-STD-883D、MIL-M-38510、GJB548、GJB597等试验标准要求；
系统适用于各种封装形式的SRAM，DRAM，SDRAM ，FLASH，DDR，RDRAM等器件进行高温动态老化筛选，并且在老化过程中对被试验器件(DUT)进行功能测试(TDBI);
一板一区，可满足16种不同试验参数的器件同时老化;可根据用户的需求，定制各种老化板及测试程序;
PH-201大容量高温试验箱一台；
系统适用于各种封装形式的SRAM，DRAM，SDRAM ，FLASH，DDR，RDRAM等器件进行高温动态老化筛选，并且在老化过程中对被试验器件(DUT)进行功能测试(TDBI);
一板一区，可满足16种不同试验参数的器件同时老化;可根据用户的需求，定制各种老化板及测试程序;
PH-201大容量高温试验箱一台；
内箱尺寸：60cm×60cm×60cm，水平风道设计；
16个 试验区域（一板一区），每个试验通道为24的整数倍，以8位存储器为例，老化测试工位最多可达到24×8＝192片，整机可到达192×16＝3072片；
标配8台12V/80A程控数字电源；试验电源过压、欠压、过流、短路和过热等保护功能，确保试验电源的可靠性；
计算机实时检测并记录电源的输出电压、电流，便于试验监控；工业级电脑主机、液晶显示器、专用键盘及鼠标，WINDOWS操作界面，友好的人机对话窗口， 强大的图形编辑能力以及强大的器件库供用户选择，软件操作简单易学，更有系统查询诊断功能， 试验状况一目了然，方便用户随时查验；
多达几百种按军标要求设计的老化试验板供用户选择，各种基板和老化座均耐高温、抗氧化、耐疲劳；
供电电源：单相AC220V±10%，47Hz~63Hz，6KW；外形尺寸：W1360mmхH1820mmхD1320mm；重量：约500kg 。
16个 试验区域（一板一区），每个试验通道为24的整数倍，以8位存储器为例，老化测试工位最多可达到24×8＝192片，整机可到达192×16＝3072片；
标配8台12V/80A程控数字电源；试验电源过压、欠压、过流、短路和过热等保护功能，确保试验电源的可靠性；
计算机实时检测并记录电源的输出电压、电流，便于试验监控；工业级电脑主机、液晶显示器、专用键盘及鼠标，WINDOWS操作界面，友好的人机对话窗口， 强大的图形编辑能力以及强大的器件库供用户选择，软件操作简单易学，更有系统查询诊断功能， 试验状况一目了然，方便用户随时查验；
多达几百种按军标要求设计的老化试验板供用户选择，各种基板和老化座均耐高温、抗氧化、耐疲劳；
供电电源：单相AC220V±10%，47Hz~63Hz，6KW；外形尺寸：W1360mmхH1820mmхD1320mm；重量：约500kg 。
