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型号:SS-200
亚微米电路/射频测试针座
特点
亚微米工艺集成电路电路测试
线性，无后座力移动
可以配合同轴/三轴探针夹具使用
夹具可以30度范围倾仰
可以使用钨探针
可以配置为东/南/西/北四个方向的射频针座
射频测试能力：直流到 40GHz ~ 120GHz
多脚探头测试范围：直流到40GHz 或者 67Ghz
可以配合使用校准片和校准软件
探头接口和线缆45度连接，无需L型转接头
探头可以拆卸维修
射频测试线固定装置
规格
X-Y-Z方向行程 12mm x 12mm x 12mm
线性移动
丝杠精度 200 Thread / Inch
移动精度 0.35 微米
尺寸
100mm长 x 140mm宽 x 100mm高
重 1100 克
型号:SS-100
亚微米电路/射频测试针座
特点
亚微米工艺集成电路电路测试
线性，无后座力移动
可以配合同轴/三轴探针夹具使用
夹具可以30度范围倾仰
可以使用钨探针
可以配置为东/南/西/北四个方向的射频针座
射频测试能力：直流到 40GHz ~ 120GHz
多脚探头测试范围：直流到40GHz 或者 67Ghz
可以配合使用校准片和校准软件
探头接口和线缆45度连接，无需L型转接头
探头可以拆卸维修
带射频测试线固定装置
规格
X-Y-Z方向行程 12mm x 12mm x 12mm
线性移动
丝杠精度 100 Thread / Inch
移动精度 0.7 微米
尺寸 90mm长 x 130mm宽 x 90mm高
重1000 克
型号:SS-80
电路/射频测试针座
特点
线性移动
I/O Pad 点测
电路点测
射频测试
较小的体积
可以配合同轴/三轴探针夹具使用
规格
X-Y-Z移动行程 12mm x 12mm x 12mm
线性移动
丝杠精度 80 Thread / Inch
移动精度 5 微米
尺寸 52mm宽 x 96mm长 x 76mm高
重 550 克
型号:SS-40
I/O Pad /Electro-Optics光电测试针座
特点
价格实惠
线性移动
I/O Pad 点测
光电器件点测
体积小
可以配合同轴/三轴探针夹具使用
规格
移动行程 12mm x 12mm x 12mm
线性移动
丝杠精度 40 Thread / Inch
移动精度 10 微米
尺寸 38mm宽x 62mm长 x 45mm高
重200 克
EB200/EB005/EB050/EB700附件
三轴探针夹具
同轴探针夹具
磁力底座，磁力翻转底座，真空底座
软件控制自动化针座
有源探头
超声波切割
低电流/电热点测
高压点测
