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    非接触式测厚仪

    规格型号:

    CG1

    发货期限:

    交货期一个月天

    运费说明:

    :20.00  

    库       存:

    1

    产       地:

    英国

    数       量:

    减少 增加

    价       格:

    200000.00
    交易保障 担保交易 网银支付

    品牌:

    型号:CG1

    所属系列:半导体测试设备-测厚设备-非接触式测厚仪

    非接触式测厚仪详细描述:用于测量晶圆各个点的厚度,根据各点的厚度结果可以用来判断晶圆产品的平整度,片内厚度差TTV是否符合要求

      是一款高性能高精密的测量仪器,可以不接触样品表面进行厚度测量。这种方式可以避免接触测量引起的表面损伤,特别适用于软脆材料及对样品表面质量高要求的测量.该仪器能非常理想的用于半导体、光学及电光材料厚度的测量应用。

     测量范围:10毫米

     满量程精度:1微米

     测量臂带细调功能
           测量范围0-180mm
           总高280mm
           重量 8 kg

     适用范围:

     适用于晶圆厚度的在线测量。也适用于各种玻璃瓶、玻璃 杯、灯  泡、灯管的壁厚的在线或静态测量。

     功能:

     在线实时测量监控、数字显示
           设备原理:

     采用无污染气脉冲测量法,通过气脉冲,在晶圆表面形成均匀气膜,对被测物进行非接触、无损伤厚度测量,采样速度快精度高,性能稳定,操作简单。

     设备型号:OCTY302

     产地:英国

     交货期:一个月

     

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