三槽式高低温冲击试验箱_其他测试设备类_半导体测试设备_设备馆

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艾思荔三槽式高低温冲击试验箱QQ:2850687954/13532370059张S箱体为整体结构形式，制冷系统位于箱体后下部，控制系统位于试验箱的上部。工作室一端的风道夹层内，分布加热器、制冷蒸发器、风叶等装置;试验箱左侧设有Ф50电缆孔，试验箱为单开门箱门上设有观察窗、防霜装置及可开关控制的照明灯。观察窗采用多层中空钢化玻璃,内侧胶合片式导电膜加热除霜;照明灯采用进口品牌飞利浦灯管，可有效的全方位观察工作室内的试验变化。采用双层耐高温抗老化硅橡胶密封，可有效保证试验箱温度的流失

三槽式高低温冲击试验箱技术指标：

1、温度范围：-60℃～150℃

2、湿度范围：30～98%RH(温度在25℃～80℃时)

3、温度均匀度：≤2℃ (空载时)

4、湿度均匀度：+2、-3%RH

5、温度波动度：±0.5℃ (空载时)

6、湿度波动度：±2%

7、温度偏差：±2℃

8、湿度偏差：±2%

9、降温速率：0.7～1.0℃/min

10、升温速度：1.0～3.0℃/min

11、时间设定范围：1～9999H

12、湿度交变范围：40～98%RH

三槽式高低温冲击试验箱温度范围：

A型: 0℃～+100℃(+150℃)

B型: -20℃～+100℃(+150℃)

C型: -40℃～+100℃(+150℃)

D型: -70℃～+100℃(+150℃)

用途：

三槽式高低温冲击试验箱又名高低温循环试验箱.是航空、汽车、家电、科研等领域必备的测试设备，用于测试和确定电工、电子及其他产品及材料进行高温、低温、交变湿热度或恒定试验的温度环境变化后的参数及性能。

符合标准：

GB 10589 低温试验箱技术条件

GB 10592 技术条件

GB 11158 技术条件

GB/T5170.2 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法温度试验设备

GB2423.1 电工电子产品基本试验规程试验A:低温试验方法

GB2423.2 电工电子产品基本试验规程试验B:高温试验方法

GB2424.1 电工电子产品基本环境试验规程高温低温试验导则

我公司是一家专业生产的三槽式高低温冲击试验箱制造厂家,产品广泛应用于通讯电子、LED光电、连接器、汽车配件、光伏组件、军工产品、航天、安防、计算机、马达、钕铁硼、半导体、磁性材料、锂电池、以及车载、船用、控制器等领域。我公司拥有多年的生产经验,具备自主创新设计能力,并多次被评为市级“重合同,守信誉”的企业。

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