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    探针台半导体领域

    产品品牌

    ADVANCED

    库       存:

    500

    产       地:

    台湾

    数       量:

    减少 增加

    价       格:

    面议
    交易保障 担保交易 网银支付

    品牌:ADVANCED

    型号:

    所属系列:半导体测试设备-电学性能测试-手动探针台


    型号:   PW-400                              
    规格:
    chuck尺寸100mm
    X,Y移动行程100mm
    chuck Z轴方向升降10mm(选项)
    搭配AEC实体显微镜
    针座摆放个数2~4颗
    适用领域:4寸Wafer,如晶圆厂、LED、学术单位等

    型号:   PW-600/PW-800

    规格:
    chuck尺寸150mm(200mm)
    X,Y电动移动行程150mm(200mm)
    chuck粗调升降8mm,微调升降25mm
    可搭配MOTIC金相显微镜或者AEC实体显微镜
    针座摆放个数6~8颗
    显微镜X-Y-Z移动范围2“x2”x2“
    可搭配Probe card测试
    适用领域:6寸/8寸Wafer、IC测试之产品

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    2017klkl  2017-08-02

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    2017-08-02

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